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首頁 > 檢測(cè)中心 > 功率器件 > 材料 >

外延層載流子濃度測(cè)試

設(shè)備：汞探針CV濃度測(cè)試儀CVmap 92A

廠商：美國Four Dimensions, Inc.(簡稱4D)

用途：檢測(cè)SiC/GaN外延層載流子濃度分布

技術(shù)指標(biāo)：

具有不同面積汞接觸, 點(diǎn)-環(huán)接觸等功能，可測(cè)試SiC,GaN等半導(dǎo)體晶片載流子濃度分布

地址：廣東省東莞市松山湖國家高新區(qū)總部一號(hào)12棟5樓
電話：0769-33882377
郵箱：nfjc@cwbg-nf.com
傳真：0769-23078230

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